Black-box alapú, öntanuló szoftver tesztkörnyezet beágyazott rendszerekben: Trace alapú analízis

Black-box alapú, öntanuló szoftver tesztkörnyezet beágyazott rendszerekben: Trace alapú analízis

 

Az első félévben az autóipari vezérlőkön végrehajtott időzítési analízis fényt derített arra, hogy a hagyományos teszt eljárásoknál alkalmazott technológia csak viszonylag pontatlan eredményeket tud nyújtani. Azért, hogy az eredmények jól, illetve jobban használhatóak legyenek például öntanuló rendszerek tanítóbázisaként ebben a félévben egy új eljárást vizsgáltunk meg, amely felhasználja a modern vezérlő chippekben létrehozott hagyományos debug és trace csatornákat és ezek segítségével komplexebb és finomabb felbontású háttér információt képes nyújtani a vezérlőn futó párhuzamos szoftver állapotáról. Az elemzés kimutatta azt is, hogy ez a módszer nem is csak, mint külső teszt ellenőrzés, de mint egy az termékbe beépített ellenőrző áramkör is a későbbiekben alkalmazható lehet.

 

Kutatási beszámoló

 

Scherer Balázs, adjunktus, BME Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék

2011. december 12.

 

A teljes kutatásibeszámoló letölthető innen (PDF)