Az analóg-digitális átalakítók tesztelésére igen elterjedten használt eljárás az úgynevezett hisztogram teszt. A teszt során az átalakítót szinuszjellel gerjesztik, majd az átalakítótt jel mintáiból egy hisztogramot készítenek amely alapján az átalakító komparálási szintjei meghatározhatóak. A komparálási szintek ismeretében az átalakító jellemzésére használt legfontosabb mennyiségek szinte mindegyike meghatározható. A minőségi teszteredmények eléréséhez pontos ismeretekkel szükséges rendelkezni a szinuszjel paramétereiről, melyek legegyszerűbben becsléssel határozhatóak meg. Az IEEE 1241-es szabványa definiálja mind a hisztogram teszt, mind a paraméterbecslés menetét, illetve a feltételeket, amelyeknek a gerjesztőjel eleget kell, hogy tegyen. A szabványos eljárás sajnos rendelkezik néhány hátrányos tulajdonsággal, úgymint:
-A jelparaméterek ellenőrzésére nem javasol módszert,
-Az általa javasolt becslési eljárás érzékeny a paraméterekre,
-Még ideálisan megválasztott paramétererértékek esetén sem garantáltak a jó teszteredmények.
Olyan jelfeldolgozási eljárások kerültek kidolgozásra, amelyek segítenek a fenti hibák elkerülését. Az eljárások egy LabVIEW eszközként kerültek implementálásra, így valódi mérések felhasználásával vethető össze a hagyományos és az új eljárások teljesítménye.
A teljes kutatási beszámoló letölthető innen (PDF)
Pálfi Vilmos, Kollár István
2014.10.20.